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{{S|spettrometria di massa}}

In [[spettrometria di massa]] il '''settore magnetico''' è un analizzatore basato sul fatto che ioni con la stessa carica e massa diversa immersi in un [[campo magnetico]] percorreranno una traiettoria con raggi di curvatura differenti.

In accoppiamento con il [[settore elettrostatico]] forma l'[[analizzatore a doppia focalizzazione]], perciò il settore magnetico è anche chiamato '''analizzatore a singola focalizzazione'''.

Sebbene il settore magnetico sia un analizzatore a bassa [[Risoluzione (spettrometria di massa)|risoluzione]], l'[[analizzatore a doppia focalizzazione]] è ad alta risoluzione.

==Meccanismo==
La differenza di potenziale alle estremità della camera di ionizzazione (potenziale di accelerazione) ''V'' impartisce agli ioni in uscita dalla camera un'energia cinetica

:<math>\frac{1}{2}mv^2 = eV</math>

L'analizzatore è immerso in un campo magnetico di intensità ''H'', sugli ioni in corsa agisce quindi una forza

:<math>F = Hev</math>

che cambia la loro [[traiettoria]] in una curva di raggio ''r'' tale per cui

:<math>Hev = \frac{mv^2}{r}</math>

combinando le tre equazioni si ottiene la relazione tra il raggio di curvatura e la massa dello ione:

:<math>\frac{m}{e} = \frac{H^2r^2}{2V}</math>

Normalmente ''H'' e ''r'' dipendono dal tipo e dalle dimensioni del magnete usato e sono quindi mantenuti statici, ciò significa che ad ogni valore del potenziale di accelerazione ''V'' solo gli ioni di una data massa ''m'' (trascuriamo le ionizzazioni multiple) andranno a collidere col rivelatore.
Nella pratica, ''V'' viene fatto variare in un intervallo di valori tale da coprire il corrispondente intervallo di ''m'' (corrente ionica totale o ''total ion current, TIC'').
Per misure ad alta sensibilità atte a rilevare la presenza di uno ione ben preciso è anche possibile fissare il valore di ''V'' sul valore corrispondente alla massa desiderata (monitoraggio del singolo ione o ''selected ion monitoring, SIM'').

==Bibliografia==
*{{cita libro|Robert M.|Silverstein|Identificazione spettrometrica di composti organici|giugno 2006|Casa Editrice Ambrosiana|Milano|coautori=Francis X. Webster, David J. Kiemle|ed=2|ISBN=88-408-1344-6}}
*{{cita libro|Kenneth A.|Rubinson|Chimica analitica strumentale|luglio 2002|Zanichelli|Bologna|coautori=Judith F. Rubinson|ed=1|ISBN=88-08-08959-2}}

==Voci correlate==
*[[Spettrometria di massa]]
*[[Settore elettrostatico]]
*[[Doppia focalizzazione]]

{{Spettrometria di massa}}

{{Portale|chimica}}

[[Categoria:Analizzatore di massa]]